镀银层测厚仪台式注意事项开启仪器电源开关时,动作要慢、不可用力过猛、以免损坏按键。向样品腔放置样品时,要注意样品的洁净,不可使尘粒掉入其中,否则会污染X光管和探测器窗口,造成测量失准和探头损坏;同时,还要注意轻拿轻放(使用镊子等器具取放样品),以免测量窗口的薄膜被破坏。样品盖需要经常用酒精棉球清洁。每次开机后,仪器都**先预热30分钟,然后进行初始化,方可进行正常的检测工作。镀银层测厚仪台式测量不同类型的样品时,需从程序栏中选择其对应的选项,才能*的测量效果。为使仪器能保持工作正常,需定期对仪器的各项参数进行测试,并进行调整。镀层样品测试注意事项先要确认基材和各层镀层金属成分及镀层元素次序,XRF荧光测厚仪多可以测5层金属镀层厚度 。通过对镀层基材的测定,确定基材中是否含有对镀层元素特征谱线有影响的物质,比如PCB印刷版基材中环氧树脂中的Br 。镀银层测厚仪台式对于底材成分不是纯元素的,并且同标准片底材元素含量不一致的,则需要进行基材修正,选用样品所相似的底材进行曲线标定 。技术指标镀银层测厚仪台式型号:Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀(U)。同时可以分析30种以上元素,五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)任意多个可选择的分析和识别模型。相互立的基体效应校正模型。镀银层测厚仪台式多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm重量:90kgX-ray射线无损检测镀层测厚仪产品特点样品处理方法简单或无处理可*对样品做定性分析对样品可做半定量或准定量分析谱线峰背比高,分析灵敏度高不破坏试样,无损分析试样形态多样化(固体、液体、粉末等)设备**、维修、维护简单
便捷、低廉的售后服务保
原创作者:江苏天瑞仪器股份有限公司
第2年