X射线镀层分析仪设备简介
X射线镀层分析仪是天瑞公司多年研发的一种镀层仪，它可以全自动地操作软件、进行多点测试、用软件控制镀层仪的测点和移动平台等，是天瑞公司研发的镀层仪。作为一个功能强大的仪器，配上门为其开发的软件，在电镀行业可谓大展身手。
工作特性。
能满足不同厚度样品及不规则表面样品的检测要求。
直径为0.1mm的小孔准直仪能够满足微小测试点的要求。
X射线镀层分析仪高动台可定位测量试验，重复定位误差小于0.005mm。
利用高度定位激光，对测试高度进行自动定位。
用定位激光器定位光斑，确保测试点与光斑一致。
滑鼠控制移动平台，滑鼠点击的位置即为被测点。
高分辨探针使分析结果更精确。
光线屏蔽效果好；
高灵敏度试验传感器保护装置。
技术性指标
模型：Thick800A。
从硫(S)到铀(U)都有元素分析。
可同时分析30多种元素，镀有五层。
测定含量通常在ppm至99.9%。
涂层厚度通常在50微米以内(每种材料各不相同)
X射线镀层分析仪可以任意选择多种分析识别模式。
互不相关的基体效应修正模型
多元非线性回收器。
该温度范围为15~30℃。
电力供应：交流220V±5V，建议配有交流净化稳定电源。
外形尺寸：576(W)×495(D)×545(H)mm。
样箱尺寸：500(W)×350(D)×140(H)毫米。
体重：90千克。
标准化配置
开放的试样室。
X射线镀层分析仪高精度二维移动采样平台，探测器和X光管上下移动，实现三维移动。
双重激光定位设备。
铅质玻璃罩
西-潘探测器
讯号探测电子电路
高、低压电源
X-光管
高感应器
防护传感器
电脑和喷墨打印机。
适用范围。
X射线镀层分析仪主要检测金属镀层的厚度，包括金层、镍层、锌层、银层、铜层等金属镀层的厚度。
测量金属镀层厚度，测定镀液及镀层含量。
贵金属及珠宝加工行业；银行、珠宝销售及检测机构；电镀行业。
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司
