X射线荧光镀层厚度测量仪

江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱(X射线镀层测厚仪，ROHS光谱仪，成分分析仪）、色谱（液相色谱，气相色谱）、质谱（气质、液相质谱仪器）等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
X射线荧光镀层厚度测量仪应用域
对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等域。

X射线荧光镀层厚度测量仪注意事项
开启仪器电源开关时，动作要慢、不可用力过猛、以免损坏按键。
向样品腔放置样品时，要注意样品的洁净，不可使尘粒掉入其中，否则会污染X光管和探测器窗口，造成测量失准和探头损坏；同时，还要注意轻拿轻放（使用镊子等器具取放样品），以免测量窗口的薄膜被破坏。
样品盖需要经常用酒精棉球清洁。
X射线荧光镀层厚度测量仪每次开机后，仪器都必须先预热30分钟，然后进行初始化，方可进行正常的检测工作。
测量不同类型的样品时，需从程序栏中选择其对应的选项，才能的测量效果。
为使仪器能保持工作正常，需定期对仪器的各项参数进行测试，并进行调整。

应用优势
X射线荧光镀层厚度测量仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析；
软件可分析5层25种元素镀层；
通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求；
X射线荧光镀层厚度测量仪配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品的分析；
内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。

X射线荧光镀层厚度测量仪镀层样品测试注意事项
X射线荧光镀层厚度测量仪先要确认基材和各层镀层金属成分及镀层元素次序，天瑞XRF荧光测厚仪多可以测5层金属镀层厚度 。
通过对镀层基材的测定，确定基材中是否含有对镀层元素特征谱线有影响的物质，比如PCB印刷版基材中环氧树脂中的Br 。
对于底材成分不是纯元素的，并且同标准片底材元素含量不一致的，则需要进行基材修正，选用样品所相似的底材进行曲线标定 。

原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司