性能特点满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求X射线膜厚测试仪φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光，可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护技术指标型号：Thick 800AX射线膜厚测试仪元素分析范围从硫(S)到铀（U）。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析含量般为ppm到99.9% 。镀层厚度般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg标准配置开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机应用域黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；电镀行业。
Thick 8000X射线膜厚测试仪是天瑞仪器门针对镀层厚度测量而精心设计的款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。仪器配置 1 硬件：主机壹台，含下列主要部件： (1) X光管 (2) 半导体探测器(3) 放大电路 (4) 高精度样品移动平台(5) 高清晰摄像头 (6) 高压系统(7) 上照、开放式样品腔 (8）双激光定位(9) 玻璃屏蔽罩2 软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.03 计算机、打印机各台计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）4 资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各份。参数规格1．分析元素范围：硫（S）～铀（U）； 2.同时检测元素：多24个元素，多达5层镀层；3.分析含量：般为2ppm到99.9%；4.镀层厚度：般在50μm以内（每种材料有所不同）；5.SDD探测器：分辨率低至135eV；6.的微孔准直技术：小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm；7.样品观察：配备景和局部两个工业高清摄像头； 8.准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合； 9.仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；10.样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；11.样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm；12.X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s；13.X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um；性能特点1.精密的三维移动平台； 2.的样品观测系统； 3.的图像识别； 4.轻松实现深槽样品的检测； 5.四种微孔聚焦准直器，自动切换； 6.双重保护措施，实现无缝防撞； 7.采用大面积高分辨率探测器，降低检出限，提高测试精度。安装要求：1 环境温度要求：15℃-30℃2 环境相对湿度：<70%3 工作电源：交流220±5V
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司
第2年
