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  产品展示  
产品型号:
THICK600
产品名称:

金属电镀层厚度检测仪

产品报价:
产品特点:
天瑞仪器是业金属电镀层厚度检测仪生产厂家,主要测试电镀层厚度,公司总部位于美丽的昆山,距离上海非常之近,满足周边客户的及时快速维护。早期,测厚仪基本被外厂家(德费希尔,日本精工,牛津等)垄断,用户可以选择的厂家比较少。天瑞仪器92年开始做X射线镀层测厚仪,是家业生产金属镀层厚度检测仪的厂家,在X荧光镀层检测方面,率先打破外的技术垄断。天瑞推出的Th
 
THICK600金属电镀层厚度检测仪的详细资料:

产品简介

天瑞仪器是业金属电镀层厚度检测仪生产厂家,主要测试电镀层厚度,公司总部位于美丽的昆山,距离上海非常之近,满足周边客户的及时快速维护。早期,测厚仪基本被外厂家(德费希尔,日本精工,牛津等)垄断,用户可以选择的厂家比较少。天瑞仪器92年开始做X射线镀层测厚仪,是家业生产金属镀层厚度检测仪的厂家,在X荧光镀层检测方面,打破外的技术垄断。天瑞推出的Thick600在精度上,可以现场与进口仪器现场PK;在价格上,可以给用户的优惠;在技术支持与售后服务上,给到客户的是*完善的售后支持。

安装步骤与维护

1.每天开机预热30分钟后打开测试软件“FpThick”:
用户使用“Administrator”,密码:skyray
2.进入测试软件后,选择“测试条件”
点击“确定”,即测试条件确定(仪器已设置好)
3.选择“工作曲线”
如待测样品是铁镀镍,则选择Ni-Fe;其他依次类推
4.放入“Ag片”对仪器进行初始化
初始化完成后,(峰通道为1105,计数率达到定的数,如300以上)。
5.待测样品测试
放入待测的样品,通过摄像头画面观察当放入的样品的表面情况,以及仪器的X射线的聚焦点。可以通过软件提供的十字坐标(也称十字光标)来定位该聚焦点,将样品放在聚焦点位置。点击“开始”,输入样品名称后“确定”。
6.测试完成后即可保持报告,报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到。
注意:测试镀层样品时,必须先要确定是什么镀层、选择好对应的工作曲线测试。
天瑞仪器优势
1. 性价比高——
采用进口零部件,同时内置天瑞自主研发的SNE(信噪比增强器)和MCA多道分析器,可以的提高仪器的计数率,在加快样品测试速度的同时降低相邻元素的谱线干扰。
2. 移动平台度高;
3. 市场占有率;
4. 售后服务体系*完善,售后服务人员素质高;
提供*的技术服务,在收到用户信息后,4小时响应,如有必要,12-72小时内派人上门维修和排除故障。
5. 唯授权具有“博士后工作站”;
6. 具有雄厚实力的研发团队——有数名“三清”博士人才;
7. 拥有完善的“7S”管理;
8. 唯拥有自己的大厦,自己的工业园;
9. 唯的具有“分析测试实验室”:对采购我司仪器的客户,提供免费的检测服务;
10. 交货周期*短;
11. 内的X荧光制造商;
12. 拥有X荧光的所有核心技术;
13. 政府机构、检测机构中使用天瑞品牌的*多;
14. 拥有发明利等知识产权共43项;

参数规格

1 分析元素范围:S-U
2 金属镀层厚度检测仪可分析多达3层以上镀层
3 分析厚度检出限达0.02μm
4 多次测量重复性可达0.05μm
5 定位精度:0.5mm
5 测量时间:30s-300s
6 计数率:1000-8000cps
7 仪器适合测试平面。以单层Fe镀Ni的标样为例,分析的范围是0.02—30um,在这个范围内,才能检测。0.5-10um的,偏差是5%,就是说真值是1um,用仪器测试的值是0.95-1.05um。

产品特点

下照式:可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片手动切换:不同样品材质用不同的准直器
移动平台:精细的手动移动平台,方便定位测试点
高分辨率探测器:提高分析的性
金属镀层厚度检测仪新代的高压电源和X光管:性能稳定,高达50W的功率实现更高的测试效率

配件

1 探测器
1.1. 电制冷半导体探测器分辨率:160±5电子伏特;
1.2. 对样品特征X射线进行探测;把探测采集的信息,放大。
2 光管
2.1. 使用寿命大于2万小时;
2.2. 产生X射线激发样品。
3 高、低压电源
3.1. 管压:5KV~50KV,管流为1000uA;
3.2. 为X光提供用电源。
4 放大电路:
4.1.对采集来的信号进行数据处理,并将处理结果传输给计算机。
5 高清晰摄像头
5.1试样观察;
6 移动平台(自动)
3.6.1样品微调移动平台,样品测试位置性。
7 样品腔
8 准直器
9 标准样品(欧盟标样):
11.1 0#标样、塑胶标样、银校正片各片。
“快速、、到位”的服务
*短交货时间
*快安装
*短维修周期
*长保修期
*个性化服务
维护费用

满足标准

1标GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美标准A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence


原创作者:江苏天瑞仪器股份有限公司

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