XRF膜厚仪特点特点
1.上照式
2.高分辨率探测器
3.鼠标定位测试点
4.测试组件可升降
5.可视化操作
6良好的射线屛蔽
7.高格度移动平台
8.自动定位高度
9.**大样品腔
10 .小孔准直器
11.自动寻找光斑
12.测试防护
性能特点
XRF膜厚仪满足不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
移动平台可测试点
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置是被测点
高分辨率探头
良好的射线屏蔽作用
测试口传感器保护江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱(X射线镀层测厚仪，ROHS光谱仪，成分分析仪）、色谱（液相色谱，气相色谱）、质谱（气质、液相质谱仪器）等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
XRF膜厚仪产品特点
样品处理方法简单或无处理
可快速对样品做定性分析
对样品可做半定量或准定量分析
谱线峰背比高,分析灵敏度高
不破坏试样,无损分析
试样形态多样化(固体、液体、粉末等)
设备、维修、维护简单
便捷、低廉的售后服务保
应用优势
电镀膜厚测试仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析；
软件可分析5层25种元素镀层；
通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求；
配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品的分析；
内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司
