天瑞xrf镀层测厚仪采用的X射线衍射原理，能够实现对薄膜厚度的高精度测量。它能够精确到纳米别，甚至更高的精度，能够满足各个行业对薄膜厚度测量的需求。无论是对于金属薄膜、陶瓷薄膜、聚合物薄膜，还是其他类型的材料，X-ray膜厚检测仪都能够测量，确保产品质量的稳定性和性。
快速的测量速度
值得一提的是，天瑞xrf镀层测厚仪在测量薄膜厚度的过程中，速度非常快捷，一次测量只需要几钟即可完成。无论是批量生产还是小批量生产，都能够满足快速检测的需求。这不仅大地提高了工作效率，还减少了生产成本和时间成本，为企业带来了明显的经济效益。
丰富的功能和应用域
X荧光金无损镀层测厚仪特点特点
1.上照式
2.高分辨率探测器
3.鼠标定位测试点
4.测试组件可升降
5.可视化操作
6良好的射线屛蔽
7.高格度移动平台
8.自动定位高度
9.超大样品腔
10 .小孔准直器
11.自动寻找光斑
12.测试防护
技术指标
天瑞xrf镀层测厚仪型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg天瑞xrf镀层测厚仪快速、、的表面分析利器
天瑞xrf镀层测厚仪作为一种的表面分析仪器，正逐渐成为各行业的必备工具。它通过应用X射线技术，可以非常地测量材料的薄膜厚度，广泛应用于电子、光电、化工、材料等多个域。
高精度的膜厚测量
天瑞xrf镀层测厚仪产品特点
样品处理方法简单或无处理
可快速对样品做定性分析
对样品可做半定量或准定量分析
谱线峰背比高,分析灵敏度高
不破坏试样,无损分析
试样形态多样化(固体、液体、粉末等)
设备、维修、维护简单除了膜厚测量外，X-ray膜厚检测仪还具备多种其他功能，使其在不同域有着广泛的应用。例如，它可以实现材料的成分分析，判断不同元素的含量和分布情况，为研发和生产提供有力的支持。同时，它还可以进行结构分析，研究材料的晶体结构和态势演化，为科学研究提供强有力的实验手段。
简便易用的操作界面
天瑞xrf镀层测厚仪具有简洁直观的操作界面，方便用户进行操作和参数设置。只需要简单的几步操作，便能够完成薄膜厚度的测量。不论是业人士还是初学者，都能够迅速上手使用，从而提高工作效率和减少操作失误。
总之，X-ray膜厚检测仪凭借其高精度、快速、、丰富的功能和简便易用的操作界面，成为各行各业不可或缺的表面分析利器。它的出现不仅满足了产品质量控制的需求，同时也推动了科技和行业发展。相信在未来的发展中，X-ray膜厚检测仪会继续发挥其重要作用，为企业带来更大的价值和竞争优势。
