x荧光仪edx1800b

江苏天瑞仪器股份有限公司是一家研发、生产ROHS检测仪，X荧光镀层测厚仪,直读光谱仪，手持式光谱仪，手持式合金分析仪，气相质谱仪,液相质谱仪，原子荧光光谱仪，电感耦合等离子发射光谱仪，等离子体质谱仪,手持式不锈钢材质检测光谱仪,镀层膜厚测试仪，X荧光测厚仪的厂家，分析仪器上市公司，公司坐落于江苏省苏州市昆山市，欢迎广大客户来参观考察。
x荧光仪edx1800b相关基础术语知识
1.精密度
定义为同一样品多次测定的平均值m和各次测定值mi之差。换句话说，精密度是重现性（Reproducibility或Repeatability）。X荧光分析 的精度是和测量的时间有关的，测量的时间越长，则精度越高。
2.重复性
定义为仪器测同一款样品的连续测试十一次或二十一次的相对标准偏差。
3.度
定义为各次测定值mi对于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，度也一定差。反之，度很差，精密度确有时很高。这是因为有时可能有系统误差的存在。要想性（Reliability）好，精密度和度都要求高。
4.误差
X荧光分析的误差往往是很难计算的，所以，通常情况下，把统计涨落引起的误差作为测量的误差。
5.检出限（Limit of detection）
当获得背景强度标准偏差三倍以上的峰值强度时的元素含量，称为检出限（或叫检出限）。这时候，测到的含量的置信度（可信的程度）是99.87％.测定检出，一般要用含量比较低的样品来测量。检出限因所用试样（基体）的不同而不同。
6.计数统计误差
在放射性物质的测量中，假设仪器稳定性、机械在现性可确保，由仪器机械产生的误差可以忽略不计，但计数统计误差还是不能。X射线强度是把入射到计数器上的光子变成脉冲后计数而得到的。因而计数值在本质上具有统计误差。 被测X射线的计数值（N）的分布属于随机事件，其标准偏差由 N求出。 N叫统计误差。时间越长，则相对偏差越小，即精度越高。

x荧光仪edx1800b针对EDX1800在各个域的广泛应用，根据优化产品性能和提高防护等的需求，特别设计该款EDX1800B。应用的高压电源和X光管，提高产品的性；利用X光管的大功率提高仪器的测试效率。

软件介绍
x荧光仪edx1800b支持Windows操作系统，中文版软件（可安装英文 软件）件设置）
具有技术管理权限密码功能，可以更好的保护测试数 据不被随意更改
软件具有定性分析，自动元素识别功能，方便对样品 元素的识别和定性，并可以打印具有谱图的定性分析 报告
可以由软件自动控制切换准直器和滤光片，减少因人 为更换错误准直器，而造成测量的误差

x荧光仪edx1800b硬件介绍
探测器内包含置放大器与主放大器电路，一体 化设计仪器有好的稳定性和性分辨率底可达140eV（计数率1000/S左右时
新型的结构设计，光管的散热，提高光管的 使用寿命。高压5-50KV电流达至iJ1mA （可根据客户要求由软件设置）

工作原理
x荧光仪edx1800b工作原理是由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线（一次射线），激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种元素的种类及含量。利用X射线荧光原理，测试出待测产品的元素含量。
天瑞仪器产业园期已经竣工并于2010年5月投产使用。天瑞仪器分析测试产业园历经三年建设，总投资数亿元的现代化园区占地100亩。产业园分为期和第二期，期总建筑面积约34，000平方米，投资逾亿建设的10层高智能化研发大楼以及工业别墅厂房目已完工投入使用， 园区按“统一规划、合理布局”的原则，坚持高起点、高标准、高质量的要求，生产厂房设计符合现代仪器制造环境的要求。负压式通风、除尘设施、自然采光设计与防静电等技术的应用，了良好的生产环境，符合环保和节能的要求，体现了绿色生产的理念。

 

原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司