金属膜厚测量仪xrf应用优势金属膜厚测量仪xrf针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析;软件可分析5层25种元素镀层;通过软件操作样品移动平台,实现不同测试点的测试需求;配置高分辨率Si-PIN半导体探测器,实现对多镀层样品的分析;内置高清晰摄像头,方便用户观测样品状态;高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。技术指标金属膜厚测量仪xrf型号:Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀(U)。同时可以分析30种以上元素,五层镀层。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)任意多个可选择的分析和识别模型。相互立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm重量:90kg金属膜厚测量仪xrf应用域对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空**、磁性材料、汽车行业、通讯行业等域。金属膜厚测量仪xrf:Thick800A测定步骤:步:新建SnPb-Cu镀层厚度标准曲线第二步:确定测试时间:40S第三步:测试其重复性得出相对标准偏差厂家介绍
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